三坐标Renishaw触发式测头—TP200

• *零复位误差                                *六向测量能力

• *无各向同性影响                            *寿命 >1 000万次触发          
• *测针测量距离达100 mm（GF测针）
• *快速测头模块交换，无需重新测尖         *应变片技术具有无可比拟的重复性和                                                        的三维轮廓测量
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• 三坐标触发式测头Renishaw—TP200测量模块：

  测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上，具有快速测针交换功能和测头程保护功能。

• 有三种测针模块可供选择，具有两种不同的程测力。

  模块	SF（标准测力）	LF（低测力）	EO（长程）
  应用	一般使用。	小直径测球或必须使用小测力的场合。	额外程使坐标测量机在较高的碰触速度下安全停止并回退。
  留言	测针长可达100 mm，测球直径 > 1 mm。	测球直径小于1 mm。	与SF的程测力相同。 测头Z轴的额外程为8 mm

• 	TP200	TP200B
  主要应用	需要高精度的数控坐标测量机。	与TP200一样，但当出现误触发事件时。
  传感器方向	六轴：±X、±Y、±Z	六轴：±X、±Y、±Z
  单向重复性 (2s µm)	触发水平1：0.40 µm 触发水平2：0.50 µm	触发水平1：0.40 µm 触发水平2：0.50 µm
  XY（2D）轮廓形式测量偏差	触发水平1：±0.80 µm 触发水平2：±0.90 µm	触发水平1：±1 µm 触发水平2：±1.2 µm
  XYZ (3D) 轮廓测量偏差	触发水平1：±1 µm 触发水平2：±1.40 µm	触发水平1：±2.50 µm 触发水平2：±4 µm
  测针交换的重复性	SCR200：±0.50 µm（大） 手动：±1 µm（大）	SCR200：±0.50 µm（大） 手动：±1 µm（大）
  测力（测尖）	XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N	XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N
  程测力（位移为0.50 mm时）	XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N	XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N
  重量（测头传感器和模块）	22 g	22 g
  长加长杆（如配在PH10系列测座上）	300 mm	300 mm
  的大测针长度（M2测针系列）	SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF	SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF
  安装方式	M8螺纹	M8螺纹
  适合的接口	PI200、UCC	PI200、UCC
  测针模块交换架	自动：SCR200 手动：MSR1	自动：SCR200 手动：MSR1
  测针系列	M2	M2

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  TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。 传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。 TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。 请注意：我们不TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。